二维 / 石墨烯材料及电子器件测试
概述：
所谓二维材料 （Two dimensional material ），指的是电子仅可在两个维度的非纳米尺度（1-100nm）上 自由运动（平面运动）的材料，属于纳米材料的范畴， 包含具有超导、金属性、半金属、拓扑绝缘体、半导体、绝缘体的材料。二维材料表现出不同于普通材料的奇异性质，这源于其超薄的厚度引起的量子限域效应，这些奇异的性质使得二维材料成为物理学、化学和材料科学研究的热点。二维材料在透明导电电极、光电探测器、气敏探测器、二极管、晶体管、忆阻器、太阳能电池、LED、电催化剂、光催化剂等领域得到广泛应用。此外，二维材料其超薄的特性有望解决常规半导体面临的短沟道效应，使得晶体管尺寸进一步缩小，在大规模集成电路领域有潜在的应用前景。
二维材料最为典型的代表是石墨烯，石墨烯是由碳原子组成的二维结构，由于在电学 / 热学 / 光学等方面的优良特性，被广泛研究并使用在这个领域。在半导体特性上，石墨烯具有优良的导电特性及易掺杂改性的特性，因此被用来制作为各种半导体器件，如零带隙、顶栅石墨烯场效应管，双层石墨烯晶体管，双极超导石墨烯晶体管，石墨烯纳米带场效应管等。在应用上可作为穿戴设备，传感器，充电设备等。
二维 / 石墨烯材料及电子器件电性能测试
二维 / 石墨烯材料电学方面的研究，材料改性后的电阻率，载流子浓度及载流子迁移率，这些参数之间的关系如图：
对二维 / 石墨烯材料，通常使用四探针法或范德堡法测试电阻率，用霍尔效应测测试载流子迁移率及载流子浓度，有关这几种测试方法，请参阅《纳米材料电性能测试概述》。对二维 / 石墨烯电子器件，通常用 I-V 曲线表征其特性。
二维 / 石墨烯材料及电子器件电性能测试挑战
首先，二维 / 石墨烯材料属于纳米材料范畴，第一节中讨论的测试挑战对二维 / 石墨烯材料都适用。
电阻率及霍尔效应测试均是加流测压的过程，需要设备能输出电流并且测试电压，这意味着同时需要电流源和电压表，并且电流源和电压表精度要高， 保证测试的准确性。
电阻率及电子迁移率通常范围较大，需要电流电压范围都很大的设备。
需与探针台配合，测试设备需方便连接，需易用的软件
霍尔效应测试时，通常要准备霍尔条 (Hall Bar)
高性价比测试方案
硬件
6221 高精度脉冲电流源
2182 纳伏表
7168 开关卡
探针台（第三方）
软件
自行开发
方案优势
性价比高
具有脉冲电流
Delta 模式
被测样品电阻适用范围广 (u ~ T)
纳伏开关卡不影响测试精度
高性能测试方案：
硬件
4200A-SCS + 4200 SMU X 3 或 4
4200 PA X 3 或 4
测试台 ( 第三方 )
软件
Clarius
方案优势：
SMU 模块集电压源 / 电压表 / 电流源 / 电流表于一体，集成度高，方便使用
SMU 均配有开尔文接口，在测试小电阻时可有效消除线缆电阻的影响
电流输出精度 40fA；电流测试精度 10fA；电压测试精度 80V；
带有 pulse 工作模式，使用 pulse 测试可以消除自加热效应 ( 需增加 4225 PMU 硬件 )
Clarius 软件可调用内置 Project，不仅适用于针对二维/ 石墨烯材料的四探针，范德堡，霍尔效应测试， 也适用于二维 / 石墨烯电子器件 I-V C-V 特性测试(C-V 特性测试时需添加 4210 CVU 硬件 )
开放设备底层指令，附带编译软件，支持自编程
